STM32 cubeMX 光敏电阻AD转化实验

文章代码使用 HAL 库。

文章目录

  • 前言
  • 一、光敏电阻介绍
  • 二、光敏电阻原理图解析
  • 三、ADC采样介绍
      • 1. 工作原理:
      • 2. ADC精度:
  • 四、STM32 cubeMX配置ADC采样
  • 五、代码编写
  • 总结

前言


  • 实验开发板:STM32F051K8。
  • 所需软件:keil5 , cubeMX 。
  • 实验目的:了解 cubeMX 定时器 的配置和使用。

一、光敏电阻介绍

光敏电阻模块,也称为光敏电阻传感器或光敏电阻模块,是一种用于检测光照强度变化的传感器设备。它通常由光敏电阻元件,调节电阻,输出电路组成,可以方便地与微控制器或其他电子设备连接,用于在光照条件变化时输出相应的电信号。

二、光敏电阻原理图解析

光敏电阻连接到了A1端口:
STM32 cubeMX 光敏电阻AD转化实验_第1张图片

A1端口是开发板上的PA4端口:
STM32 cubeMX 光敏电阻AD转化实验_第2张图片

三、ADC采样介绍

当涉及模拟信号(例如声音、光线、温度等)需要在数字系统(如计算机或微控制器)中进行处理时,需要将其转换为数字形式。模拟-数字转换器(ADC)负责执行这一过程。

1. 工作原理:

  1. 采样: 这是ADC的第一步,它连续或间断地测量输入模拟信号的值。在这个阶段,ADC以一定的时
    间间隔对模拟信号进行采样。
  2. 量化: 采样得到的模拟信号需要被量化。量化过程将连续的模拟信号转换为离散的数字值。ADC根
    据采样时的精度将信号转换为对应的数字表示,例如,8位、10位、12位或更高的精度。
  3. 编码: 编码将量化的样本转换为二进制数字。这个数字代表了信号的大小,以便在数字系统中进行
    处理和存储。

2. ADC精度:

ADC(模拟-数字转换器)精度是指ADC输出的数字值与实际模拟输入之间的差异程度。精度是ADC性能的一个重要指标,通常以位(bits)为单位表示。更高的精度通常意味着更准确的数字表示。

  1. 位数: 精度通常以位数表示,比如8位、10位、12位等。一个N位的ADC可以表示2^N个不同的数
    字值。例如,一个10位ADC可以表示2^10(1024)个不同的数字。
  2. 分辨率: 分辨率是指ADC能够将模拟输入范围分成多少个离散的步骤。与位数直接相关,分辨率越
    高,ADC能够区分的模拟输入的微小变化就越多。

四、STM32 cubeMX配置ADC采样

STM32 cubeMX 光敏电阻AD转化实验_第3张图片

五、代码编写

通过 AD 转换将光敏电阻的模拟信号转化为数字信号。

int adc_val = 0;

// ADC 开启
HAL_ADC_Start(&hadc);

// 获取 ADC 值
adc_val = HAL_ADC_GetValue(&hadc);
printf("adc_val : %d\r\n", adc_val);

HAL_Delay(1000);		// 每一秒打印一次ADC值

示例:
STM32 cubeMX 光敏电阻AD转化实验_第4张图片


总结

下一篇文章为大家介绍 stm32 温湿度模块。

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